【三星电子提交HBM最新专利,解决高堆叠内存的可靠性难题】金色财经报道,6月30日,据Citrini研究员Jukan爆料,三星电子提交最新HBM专利,通过改进最顶层dummydie结构解决高堆叠(12层以上)内存的可靠性难题。专利核心是将dummydie侧面设计为三阶台阶加凸曲面结构,采用深槽锯切工艺,减少翘曲、裂纹和分层,同时优化热管理和bonding界面清洁度。此创新针对HBM5等16层以上产品,可显著提升良率和长期稳定性,有助于三星在AI高带宽内存市场增强竞争力。
三星电子提交HBM最新专利,解决高堆叠内存的可靠性难题
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- EnglishSamsung Electronics files latest HBM patent, addressing reliability challenges in high-stack memory.
- 한국어삼성전자, HBM 최신 특허 제출로 고적층 메모리 신뢰성 문제 해결